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2020-05-20
4658
作者：南京舜特科
标签：Epsilometer | 测量系统 | 介质材料
Epsilometer-材料介电特性测量系统可测量的频率为3 MHz 至6 GHz的介质基板材料，并可容纳厚度为0.3至3 mm的薄板样品并且为非破坏性测量 。
根据Compass Technology的 John Schultz博士的说法，该解决方案使用了一种新方法，“与以前的介电分析技术不同，这种新方法使用计算电磁建模来反推出介电常数和损耗。这代表了传统方法的显着进步，传统方法使用分析近似，并且仅限于1 GHz以下的频率。“
Epsilometer 测量系统包括R60 VNA ，软件，测量夹具，Epsilometer软件和校准样品。Epsilometer可用于微波电路材料设计和制造，天线罩，天线基板，无线设备的封装 - 4G / LTE，WiFi，蓝牙，5G，物联网等 - 以及许多其他应用。
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